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顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光

型號(hào)：SGW®X-4A

產(chǎn)品時(shí)間：2024-04-30

簡要描述：

顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光
范圍：室溫～320℃；
最小讀數(shù)單位：0.1℃；
重復(fù)性：±1℃（<200℃）；±2℃（≥200℃）；
單目顯微鏡；光學(xué)放大倍數(shù)：40倍

詳細(xì)介紹
SGW® X-4B/SGW® X-4A/SGW® X-4 顯微熔點(diǎn)儀
顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光              產(chǎn)品簡介：

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定。儀器采用顯微鏡觀察方法，既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測定。

SGWR X-4A、SGWR X-4B帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對(duì)測試結(jié)果的影響。

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定。儀器采用顯微鏡觀察方法，既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測定。

SGWR X-4A、SGWR X-4B帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對(duì)測試結(jié)果的影響。

顯微熔點(diǎn)儀--上海儀電物光               技術(shù)參數(shù)：
儀器型號(hào)SGW® X-4BSGW® X-4ASGW® X-4
測量范圍

室溫~320℃

測量方法目視
測量模式毛細(xì)管法/熱臺(tái)法
最小示值

0.1℃

0.1℃1℃
示值誤差≤200℃±1℃；>200℃±2℃
觀察方式雙目體視顯微鏡單目顯微鏡單目顯微鏡
放大鏡倍數(shù)40×-100×變倍40×40×
電源220V±22V,50Hz±1Hz
儀器尺寸269×160×435mm215×140×395mm215×140×395mm
儀器凈重4kg3.6kg3.5kg




 


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